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    嵌入式存储器自修复电路的设计与仿真
    Design and Simulation of Embedded Memory Self repaired Circuits
      
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    中文摘要:
          介绍了一种存储器自修复电路的仿真设计，其中内建自测试模块中的地址生成器采用LFSR设计，它面积开销相当小，从而大大降低了整个测试电路的硬件开销。而内建自修复模块采用基于一维冗余（冗余行块）结构的修复策略设计。通过16×32比特SRAM自修复电路设计实验验证了此方法的可行性。
    英文摘要:
          
    王丽
    南京航空航天大学金城学院,江苏南京211156
    中文关键词:  嵌入式存储器  SRAM  线性反馈移位寄存器（LFSR）  自测试  自修复
    英文关键词:SRAM
    基金项目:
    DOI：10.11823/hkjcjs.1674-5795.2010.30.1.006.
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