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    304所激光干涉比长仪通过验收
      
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    中文摘要:
          （本刊讯）10月20日,第二十届多国仪器仪表学术会议暨展览会（MICONEX 2009）在上海光大会展中心隆重开幕。《计测技术》作为行业内知名刊物,派专人赴上海参加了本届盛会。本届为期4天的展会,汇聚了国内外约600家知名企业参展,应用于各个行业和领域的科学仪器、工业自动化仪表与控制系统、仪器仪表工艺装备等先进产品纷纷亮相展会。记者从主办方了解到,本届展会高新技术产品比例明显提高,展品的行业覆盖面更大,基本涵盖了仪器、仪表、控制技术的各个门类,充分彰显了展会这一多维信息平台的特点。
    英文摘要:
          
    唐志峰
    中文关键词:  仪器仪表行业  上海光大会展中心  高新技术产品  工业自动化仪表  学术会议  计测技术  知名企业  科学仪器
    英文关键词:
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