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    光电显微镜中隔圈设计的公差控制
      Revised:February 05, 2001
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    中文摘要:
          为了提高光电显微镜的瞄准精度、必须同时提高光学、机械两方面的设计水平，其中隔圈公差控制是保证光电显微镜精度的关键。本文详细地分析了隔圈的标注方法。
    英文摘要:
          
    张家远
    中国航空长城计量测试技术研究所 北京市1066信箱开发一部，100095
    中文关键词:  光电显微镜 隔圈 公差控制 瞄准精度 标注方法 设计方法
    英文关键词:
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