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    夫琅和费衍射—干涉条纹在精密测角仪上的应用
      
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    中文摘要:
          在精密测角仪设计中应用了夫琅和费衍射光栅系统，通过理论分析和对光学系统的改进，已调了视场均匀，条纹清晰，对比度好的衍射－干涉条纹，为多路合成获得高精度的衍射－干涉条纹及电路进行８００倍细分，奠定了良好基础。
    英文摘要:
          
    林莹
    长城计量测试技术研究所!北京市，100095
    中文关键词:  夫琅和费衍射 测角仪 光学系统 干涉条纹
    英文关键词:
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