光电显微镜在孔径测量中的应用
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TH741.1 TH74

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The Application of Photoelectric Microscope to Measuring Aperture
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    静态光电显微镜在测量中可进行非接触瞄准,提高了瞄准精度,而且为检测自动化提供了可靠的基础,结合光显微镜的瞄准原则,建立数学模型可测量内孔孔径。

    Abstract:

    Measurement of non contact alignment with static photoelectric microscope improves the precision of aim and offers the reliable base of automeasurement.Combining with the alignment principle of the photoelectric microscope and establishing the mathematic model,the diameter of the inside pore can be measured.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

何学军,熊昌友,李华峰,何英.光电显微镜在孔径测量中的应用[J].计测技术,2002,(6):11~12,46:
[doi].

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  • 最后修改日期:2002-09-24
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