光电显微镜中隔圈设计的公差控制

光电显微镜中隔圈设计的公差控制
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中图分类号:TH741.7
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为了提高光电显微镜的瞄准精度、必须同时提高光学、机械两方面的设计水平，其中隔圈公差控制是保证光电显微镜精度的关键。本文详细地分析了隔圈的标注方法。

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参考文献

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引证文献

张家远.光电显微镜中隔圈设计的公差控制[J].计测技术,2001,(5):41~42:
[doi].

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