VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法
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TN406

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Method of Eliminating Error Caused by User''''s Aid-hardware during the Test of VLSI Chip
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    摘要:

    在 VL SI测试中 ,由于用户引入辅助硬件产生的误差问题 ,一直是阻碍测试精度和可靠性的关键问题。本文以 ITS90 0 0 MX为背景 ,介绍在 VL SI测试中 ,对辅助硬件所造成误差的一种解除方法。在现有条件下 ,实现简单、方便 ,可供有相应测试系统的测试工作者参考。

    Abstract:

    During VLSI test,the error caused by user's aid\|hardware is always the key problem cumbering the precision and reliability of test and measurement.Based on ITS9000MX,this paper introduces a method of eliminating the error caused by user's aid\|hardware during VLSI test.Under the existing condition,this method is simple and convenient.It can be a reference for the tester who has the relative measuring system.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

沈森祖,石坚,汪喜麟. VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法[J].计测技术,2001,(1):36~38:
[doi].

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  • 最后修改日期:2000-09-04
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