KWD—502型可控硅稳压电源故障分析与测试
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TN860.7 TN34

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Malfunction Analysis and Test of Type KWD-502 Silicon Controlled DC Voltage-stabilized Source
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    结合电路工作原理,重点介绍了KWD-502型可挂硅直流稳压电源四种故障类型的分析处理及其测试方法,以便确保它在测量过程中的使用可靠性。

    Abstract:

    Associating the circuit operation principle,the methods of an analysis and test of thefour malfunction patterns of type KWD- 502 silicon controlled DC voltage-stabilized source are mainlyintroduced in order to truly ensure its serviceability during measuring process.

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肖润陆. KWD—502型可控硅稳压电源故障分析与测试[J].计测技术,1999,(3):20~25:
[doi].

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  • 最后修改日期:1998-02-23
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