夫琅和费衍射—干涉条纹在精密测角仪上的应用

夫琅和费衍射—干涉条纹在精密测角仪上的应用
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中图分类号:TH741.2
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在精密测角仪设计中应用了夫琅和费衍射光栅系统，通过理论分析和对光学系统的改进，已调了视场均匀，条纹清晰，对比度好的衍射－干涉条纹，为多路合成获得高精度的衍射－干涉条纹及电路进行８００倍细分，奠定了良好基础。

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参考文献

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引证文献

林莹.夫琅和费衍射—干涉条纹在精密测角仪上的应用[J].计测技术,1995,(4):29~31:
[doi].

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