TH744.3 TN344
激光干涉仪因其具有较高的测量精度而被广泛地应用。在使用激光干涉仪（以Agilent5529A激光动态干涉校准仪为例）测量工件的实际尺寸（长度）时，需要用测头去探触工件，以取得工件的实际位置，因此需要有一触发装置，来感知测头是否探触了工件。本文设计了一个触发电路，能够使激光干涉仪实现这一功能。
刘宁.一种激光干涉仪外部测量触发电路[J].计测技术,2005,25(4):52~52,54:[doi].
