利用光散射测表面粗糙度的方法
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

TG84

基金项目:


Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    在这篇文章中概括了大量以前所做的利用光散射测量金属表面粗糙度的试验。也确定了几种测量不同表面粗糙度参数和函数的方法,同时也给出了每种方法的近似范围。利用直接标准,计算光清表面粗糙度,范围从0<α/λ<0.05,其中σ是粗糙度均方值,凡是光波长,在这种方法中散射的角分布与粗糙度的功率谱密度密切相关。在此基础上表面目相关函数可以通过范围在0<α/λ<0.14之间的角分布付里叶变换计算出。在0<α/λ<0.3范围内,光线是可分辨和测量的,对于这种情况给出了镜面反射的方法。对于这些方法和较粗糙的表面,发散宽度的均…

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

孙长安.利用光散射测表面粗糙度的方法[J].计测技术,1994,(6):35~40,44:
[doi].

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码