1988年，D．I．门捷列夫计量研究院（以下简称VNIIM）制造了高精密度的自动干涉膨胀计，用于考察热线性膨胀系数（以下简称TLEC）。膨胀计可以测量固体热线性膨胀系数从O．05×10-6～25×10-6K－1的样品，其中IDS－1MA膨胀计测定的温度范围为300～1500K，IDS－2MA膨胀计的测定温度范围为观～450K。设计的膨胀计使热线性膨胀系数的测量可以进行自动数据处理和程序化操作，加热和冷却过程的自动控制，在任何工作温度范围内，样品可以长期保持。膨胀计利用干涉原理测定伸长。自动线性位移测童系统提供了干涉的积分和分数级的可逆计…